隨著電子電器產(chǎn)品的體積與重量日益縮小，技術(shù)含量不斷擴大、智能化程度成倍

提高，對電子電器產(chǎn)品可靠性的要求已成為衡量產(chǎn)品質(zhì)量最重要的技術(shù)指標(biāo)之一。可靠性不僅在國防、航天、航空等尖端技術(shù)領(lǐng)域倍受關(guān)注，在工業(yè)、民用電子等領(lǐng)域也同樣得到重視。國家標(biāo)準(zhǔn)委近期公布了GB2423、GB2424 等相關(guān)一系列標(biāo)準(zhǔn)的更新，進(jìn)一步規(guī)范化現(xiàn)在可靠性試驗、測試等相關(guān)內(nèi)容。重視程度可見一斑。

     為進(jìn)一步加強各企事業(yè)單位相關(guān)人員針對產(chǎn)品可靠性方面的技術(shù)能力及國家標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用理解。工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院培訓(xùn)中心定于線上舉辦“產(chǎn)品可靠性設(shè)計、試驗、失效分析應(yīng)用技術(shù)及案例分析”暨《可靠性工程師》（高級）職業(yè)技術(shù)網(wǎng)絡(luò)專題培訓(xùn)班。學(xué)習(xí)結(jié)束后，統(tǒng)一考核，合格者由工業(yè)和信息化部教育與考試中心頒發(fā)《可靠性工程師》（高級）職業(yè)技術(shù)證書。具體事宜通知如下：

一、培訓(xùn)內(nèi)容

電子產(chǎn)品失效分析經(jīng)典案例

1、 失效分析全過程案例

2、靜電放電失效機理講解與案例分析

3、閂鎖失效機理講解與案例分析

4、過電失效類失效機理講解與案例分析

5、機械應(yīng)力類失效機理講解與案例分析

6、熱變應(yīng)力類失效機理講解與案例分析

7、結(jié)構(gòu)缺陷類失效機理講解與案例分析

8、材料缺陷類失效機理講解與案例分析

9、工藝缺陷類失效機理講解與案例分析

10、應(yīng)用設(shè)計缺陷類失效機理講解與案例分析

11、污染腐蝕類失效機理講解與案例分析

12、元器件固有機理類失效機理講解與案例分析

13、 面目全非的樣品的分析

可靠性設(shè)計與分析

1、電子元器件的選擇，主要失效機理、應(yīng)用可靠性設(shè)計規(guī)則

A電子元器件的選用與控制 B元器件失效的內(nèi)因與外因

C電阻器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

D瓷介質(zhì)電容器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

E鋁電解電容器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

F繼電器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

G連接器與開關(guān)的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

H諧振器與振蕩器的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

I分立半導(dǎo)體器件的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

J集成電路的種類、結(jié)構(gòu)、失效模式、失效機理、使用規(guī)則及案例

2、整機級可靠性設(shè)計技術(shù)方法

A熱設(shè)計 B電磁兼容設(shè)計      C“三防”設(shè)計

D耐振設(shè)計 E安全性設(shè)計        F接地與布線的設(shè)計

3、故障模式、影響及危害度分析

A概述與特點

B GJB/Z 1391—2006規(guī)定的功能及硬件FMECA：步驟與實施，示例

C GJB/Z 1391—2006規(guī)定的過程FMECA：步驟與實施，示例

D QS 9000規(guī)定的潛在失效模式影響分析

4、故障樹分析

A概述 B故障樹中常用的術(shù)語與符號       C FTA的一般步驟

D確定頂事件 E建立故障樹     F故障樹的規(guī)范化、簡化和模塊分解

G故障樹的定性分析 H故障樹的定量分析       I  FTA應(yīng)用實例

可靠性試驗與評價

1、可靠性試驗數(shù)據(jù)的分析與處理

A數(shù)據(jù)的收集與初步整理分析 B分布類型的檢驗

C連續(xù)型分布的參數(shù)估計 D離散型分布的參數(shù)估計

2、環(huán)境應(yīng)力效應(yīng)與典型電子產(chǎn)品失效機理

A應(yīng)力與失效機理的認(rèn)識 B環(huán)境應(yīng)力試驗的作用和分類 C環(huán)境應(yīng)力的效應(yīng)

D高溫的環(huán)境效應(yīng)及案例 E低溫的環(huán)境效應(yīng)及案例F溫度變化的環(huán)境效應(yīng)及案例

G濕度及含鹽氣氛的環(huán)境效應(yīng)及案例 H機械應(yīng)力的環(huán)境效應(yīng)及案例

I綜合應(yīng)力的環(huán)境效應(yīng) J失效機理歸納        K半導(dǎo)體的主要失效機理

L電化學(xué)腐蝕及遷移 M電遷移  N熱疲勞  O應(yīng)力遷移   P機械疲勞

3、加速試驗技術(shù)

A加速應(yīng)力試驗概述 B加速試驗的分類   C 加速的模型

D恒定應(yīng)力加速壽命試驗的統(tǒng)計分析 E基于退化數(shù)據(jù)的可靠性數(shù)據(jù)分析

F耐久性數(shù)據(jù)分析 G 加速試驗方案的設(shè)計  H加速壽命試驗數(shù)據(jù)圖估法的應(yīng)用

I加速壽命試驗關(guān)鍵指標(biāo)計算案例 J加速試驗方法的局限性

4、各門類電子元器件的定性可靠性評價方法

A元件類 B器件類

二、時間安排

培訓(xùn)周期：2021年9月22-26日